-
Obserwuj
-
Lornetka Levenhuk Army 10x40 z celownikiem
…również może służyć do wykonania szeregu pomiarów: odległości i wysokości, a także kątów poziomych i pionowych. Jest to…
619 złFIRMA
Kolejność ofert na liście dopasowujemy do Twoich wyszukiwań. Dowiedz się więcej o sposobach sortowania »
Ogłoszenia
Obserwuj
…również może służyć do wykonania szeregu pomiarów: odległości i wysokości, a także kątów poziomych i pionowych. Jest to…
Obserwuj
…odległości, a także obliczenie wysokości celów i kątów (kąta wzniesienia i kąta poziomego). Układ optyczny z pełną…
Obserwuj
…obszar o szerokości 135 stóp (około 41 metrów). Fov 4.5°: Jest to inna miara pola widzenia, wyrażona w stopniach. 4,5…
Obserwuj
…prezentowane są na wyświetlaczu OLED z 5-stopniową regulacją jasności. Dodatkowe tryby: pomiar kąta nachylenia w…
Obserwuj
…obiektu, odległość od niego, kąt poziomy i kąt wzniesienia. Wszystkie powierzchnie optyczne lornetki Levenhuk Army 7x50…
Obserwuj
…do pomiaru odległości, kątów i prędkości poruszających się obiektów. Błąd pomiaru jest niewielki, a urządzenie jest…
Obserwuj
…Lornetka Steiner Skyhawk 4.0 8x32 (2336) Steiner SkyHawk 4.0 to seria czterech lornetek przyrodniczych: 8x32…
Obserwuj
…otoczenia i pomiaru odległości, obliczania wysokości obiektów oraz określania kątów (poziomych i pionowych). Dzięki…
Obserwuj
…Achromatyczny. Głowica monokularowa nachylona pod kątem 45° i obracana w zakresie 360°, oświetlenie LED, precyzyjna…
Obserwuj
…Układ optyczny o ultraniskim współczynniku dyspersji. Ustawiony pod kątem okular. Powiększenie: 8–24 razy. Średnica…
Obserwuj
…°, południe to 180°, wschód to 90°, a zachód to 270°. Układ optyczny jest wykonany z wysokiej jakości szkła BaK-4…
Obserwuj
…źrenicy wyjściowej: 4,14 mm Sprawność zmierzchowa: 16,7 mm Korekcja dioptrii: ± 3 dpt Przepuszczalność światła: 95…
Obserwuj
…bateryjne Zawartość zestawu: Mikroskop Obiektywy achromatyczne: 4 razy, 10 razy, 40 razy i 100 razy (olejek…
Obserwuj
…pochylone pod kątem równym szerokości geograficznej. Dzięki takiemu ustawieniu osi prowadzenie za ruchem obiektów na…