Nowoczesne metody badań powierzchni D. Woodruff
- Pruszków, mazowieckie
- 09 Wrz 12:32
- Nr ogłoszenia: 68777585
- Dostępność: dostępne
1 / 2
Obserwuj
- Oferta od osoby prywatnej
- Stan używane
- Rok wydania 1989
- Okładka twarda
ПО, II, 15, 13, II, I/2, IC, IIA, I 8, 10 50
le
18
3
J
2
e
IS
OGI I
Ederive
ICW
3
IJ IS 13 I
12 пе
18 па
ww,
фии
50 55 5/5
S
$13
SIT SR se
3.2.2. Источники фотонов .....
3.2.3. Форма и сдвиги фотоэлектронных пиков 3.2.4. РФЭС - спектроскопия остовных уровней 3.2.5. Использование синхротронного излучения 3.2.6. Структурные эффекты в РФЭС
3.3. Электронная оже-спектроскопия (ЭОС) 3.3.1. Введение: основные процессы
27
27.
34
37
42
2.5. Домены, ступеньки и дефекты
45
Предисловие редактора перевода Предисловие
Сокращения
Глава 1. ВВЕДЕНИЕ
1.1. Почему поверхность?
1.2. Сверхвысокий вакуум, загрязнения и очистка
1.3. Адсорбция на поверхности
14
20
Глава 4. МЕТОДЫ ИОННОЙ СПЕКТРОСКОПИИ
1.4. Аналитические методы исследования поверхности
.........
23.
4.1. Введение
4.2. Обмен зарядом между ионами и поверхностью
4.2.1. Ионно-нейтрализационная спектроскопия (ИНС)
4.2.2. Ионно-нейтрализационная спектроскопия с участием
Глава 2. КРИСТАЛЛОГРАФИЯ ПОВЕРХНОСТИ И ДИФРАКЦИЯ ЭЛЕКТРОНОВ
2.1. Симметрия поверхности
2.2. Описание структур верхних слоев
2.3. Обратная решетка и дифракция электронов
2.4. Дифракция электронов; качественное рассмотрение
3.3.2. Энергетические уровни, сдвиги и форма пиков 3.3.3. ЭОС как метод анализа состава поверхности 3.3.4. ЭОС и РФЭС 3.4. Пороговые методы
-----
некоторые сопоставления
3.4.1. Спектроскопия потенциала появления (СПП) 3.4.2. Спектроскопия ионизационных потерь (СИП) 3.4.3. Структурные эффекты в пороговых методах
3.5. Ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия (УФЭС) 3.5.1. Введение
3.5.2. Использование УФЭС для изучения зонной структуры 3.5.3. Применение УФЭС для изучения адсорбированных молекул
метастабильных атомов
4.2.3. Экспериментальное оборудование для ИНС
4.2.4. Экспериментальные результаты, полученные при нейтрализа- ции ионов на поверхности металлов
.... 128
... 131
141
149
153
164
164
166
179
193
195
195
204
207
212
212
214
.... 233
. 251
251
253
. 257
**********
266
***********
268
**********
273
2.6. Определение структуры поверхности с помощью ДМЭ
65
4.2.5. Информация, получаемая при ИНС металлов 4.3. Методы, основанные на изучении рассеяния ионов
278
281
2.6.1. Общее рассмотрение и недостатки методов однократного рассеяния и фурье-преобразования
65
4.3.1. Рассеяние медленных ионов (РМИ): основные положения 4.3.2. Структурные эффекты в РМИ
1 282
............
. 297
2.6.2. Основные теории многократного рассеяния
77
2.6.3. Применение расчетов многократного рассеяния.
4.3.3. Оборудование, проблемы и перспективы РМИ 4.3.4. Рассеяние быстрых ионов (РБИ)
. 302
. 305
2.7. Тепловые эффекты
92
4.4. Распыление и послойный анализ
. 314
2.8. Дифракция отраженных быстрых электронов (ДОБЭ)
95
4.5. Вторично-ионная масс-спектрометрия (ВИМС)
.332
Глава 3. МЕТОДЫ ЭЛЕКТРОННОЙ СПЕКТРОСКОПИИ
101
Глава 5. ДЕСОРБЦИОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ
354
3.1. Общие замечания
101
3.1.1. Введение
101
3.1.2. Неупругое рассеяние Электронов и поверхностная чувствитель ность
.402
3.1.3. Электронные спектрометры
.... 108
3.1.4. Распределение электронов по энергии в методах электронной спектроскопии
..... 122
и ТПД
5.2.4. Спектры импульсной десорбции и ТПД
3.1.5. Методы электронной спектроскопии: спектроскопия остовных уровней атомов
3.2. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС)
....126 ..127
3.2.1. Введение ......
127
5.1. Введение
5.2. Термодесорбция
5.2.1. Введение
5.2.2. Качественный анализ зависимостей давления от времени 5.2.3. Экспериментальное оборудование для импульсной десорбции
5.3. Электронно-стимулированная десорбция
5.3.1. Основные механизмы
5.3.2. Оборудование и измерения
5.3.3. Некоторые приложения и результаты
KArton 222
Skontaktuj się
Henryk
Liczba odsłon: 73
Zgłoś nadużycie
298,88 zł
